| МИ 100-76 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика поверки отсчетных микроскопов типа МПВ-1 | |
|---|---|
| Cтатус: | Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS |
| Утвержден: | ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, 22.11.1975 |
| Страниц в документе: | 8 |
| Изображение документа: | Сканкопия официального издания документа |
ГОСТ 11141-65 Чистота поверхностей оптических деталей
ГОСТ 14968-69 Микроскопы универсальные измерительные ГОСТ 2015-69 Калибры гладкие нерегулируемые. Технические требования ГОСТ 7513-75 Объект-микрометр. Технические условия
ГОСТ 8.050-73 Государственная система обеспечения единства измерений. Нормальные условия выполнения линейных и угловых измерений
