| ГОСТ Р 59743.2-2022 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта | |
|---|---|
| Cтатус: | Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS |
| Синоним: | ИСО 14880-2:2006 |
| Утвержден: | Росстандарт; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 13.07.2022 |
| Текст и изображение документа: | Word PDF Сканкопия официального издания документа |
ГОСТ Р 59743.1-2021 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 1. Термины и определения. Классификация
ГОСТ Р 8.745-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Оптика и фотоника. Интерференционные измерения оптических элементов и систем. Часть 2. Измерения и методика оценки результатов ГОСТ Р ИСО 15367-2-2012 Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений формы волнового фронта пучка лазерного излучения. Часть 2. Датчики Шока-Гартмана
Федеральный закон 162-ФЗ О стандартизации в Российской Федерации Приказ 1036 О внесении изменения в Перечень документов национальной системы стандартизации, закрепленных за техническим комитетом по стандартизации "Оптика и фотоника" (ТК 296), утвержденный приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 января 2023 г. № 220 Приказ 220 О закреплении документов национальной системы стандартизации за техническим комитетом по стандартизации "Оптика и фотоника" (ТК 296)
