| ОСТ 11 0056-84 Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Методы бесконтактного измерения отклонения от плоскостности | |
|---|---|
| Cтатус: | Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS |
| Утвержден: | Минэлектронпром СССР; МЭП СССР, 01.01.1986 |
| Комментарий: | ОБРАТИТЕ ВНИМАНИЕ:Документ из неофициального источника. Дополнительную информацию см. "Примечания". |
| Изображение документа: | Сканкопия официального издания документа |
