| ОСТ 11 050.068-83 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин | |
|---|---|
| Cтатус: | Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS |
| Утвержден: | Минэлектронпром СССР; МЭП СССР, 01.01.1983 |
| Комментарий: | ОБРАТИТЕ ВНИМАНИЕ:Документ из неофициального источника. Дополнительную информацию см. "Примечания". |
| Изображение документа: | Сканкопия официального издания документа |
