| ГОСТ Р 8.628-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления | |
|---|---|
| Cтатус: | Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS |
| Утвержден: | Росстандарт; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 21.05.2007 |
| Страниц в документе: | 11 |
| Текст и изображение документа: | Word PDF Сканкопия официального издания документа |
ГОСТ 19658-81 Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия ГОСТ Р 1.0-2004 Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения ГОСТ Р 8.629-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
Приказ 56-ст О введении в действие межгосударственного стандарта Приказ 96-ст Об утверждении национального стандарта РМГ 29-99 Государственная система обеспечения единства измерений. Метрология. Основные термины и определения Федеральный закон 184-ФЗ О техническом регулировании ГОСТ Р 8.629-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки ГОСТ Р 8.644-2008 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа Приказ 56-ст О введении в действие межгосударственного стандарта Приказ 96-ст Об утверждении национального стандарта
